Industrialisasi, Otomatisasi & Inovasi

Memperluas Pantulan Cahaya pada Kaca, Begini Platform Metrologi Bekerja

ShareMemperluas pantulan cahaya pada kaca dergan  teknologi pelapisan. Teknologi pengukuran dapat ditransfer ke sektor industri pelapisan, kaca, dan semikonduktor. Bagaimana cahaya LED...

Written by Erwin Prasetyo · 1 min read >
Pantulan Cahaya pada Kaca

Memperluas pantulan cahaya pada kaca dergan  teknologi pelapisan. Teknologi pengukuran dapat ditransfer ke sektor industri pelapisan, kaca, dan semikonduktor. Bagaimana cahaya LED menyeleksi radiasi? Apakah temuan ahli dapat diintegrasikan ke manufaktur?

Pantulan Cahaya pada Kaca
Unit pencahayaan LED dalam platform metrologi fotovoltaik  yang dicoba di kantor Fraunhofer CSP. Hasil uji coba memungkinkan untuk membuat bidang cahaya selektif, berskala lebih luas, dan sangat homogen secara spektral. Memperluas pantulan cahaya pada kaca, begini platform metrologi bekerja (Foto/©:  Fraunhofer CSP)

Apa tujuan tim peneliti mengembangkan prosedur pengujian khusus untuk menganalisis sifat lapisan substrat kaca permukaan besar?

Tim peneliti di Pusat Fraunhofer khususnya lembaga Silicon Photovoltaics CSP melakukan prosedur pengujian yang kompatibel dengan inline yang dapat digunakan.

Misalnya bagaimana menganalisis sifat spektral dan optik dari modul surya film tipis.

Pelapisan atas produk setengah jadi yang dilakukan di industri membantu untuk menciptakan sifat khusus seperti perlindungan terhadap panas dan pantulan.

Untuk mencapai efisiensi dan kinerja modul surya film tipis sangat bergantung pada keampuhan teknologi pelapisan, apakah penggunaannya sesuai dengan rencana?

Pelapisan yang dianggap matang itu membutuhkan permukaan yang lebar, dan pelapis homogen dengan fungsi elektro-optik.

Berbagai sifat lapisan—seperti struktur mikro, kekasaran, transmisi cahaya, dan homogenitas—berdampak signifikan terhadap pencapaian efisiensi modul surya.

Menurut rilis Fraunhoifer, tim peneliti menjelaskan bahwa hingga saat ini, kita mungkin  mendefinisikan properti (peralatan) ini dilakukan dengan potongan uji berukuran sangat kecil.

“Bersama dengan pelaku industri, kami mengembangkan prosedur pengukuran yang inovatif agar memungkinkan untuk menganalisis properti lapisan modul film tipis dengan ukuran luas sampai dua meter persegi—dalam skala besar dan dengan pengujian non-destruktif,” jelas Prof. Ralph Gottschalg, Direktur Fraunhofer CSP.

Ia menambahkan, teknologi pengukuran akan kompatibel dengan inline. Dengan kata lain, lanjutnya, hal itu dapat diintegrasikan ke dalam proses manufaktur yang sudah beroperasi.  

Selain prosedur pengukuran yang ada, para peneliti juga menggunakan metode analisis baru seperti proses hiperspektral.

Data diselesaikan secara spektral yang memungkinkan penyimpulan tentang karakteristik sampel seperti ketebalan lapisan, indeks bias, dan tepi serapan.

Dengan skala tadi hingga format besar, platform metrologi dikembangkan bersama dengan alat pengukur prototipikal, dan dapat disesuaikan pada satr digunakan di lingkungan produksi tertentu.

Data yang diperoleh melalui platform ini memungkinkan pelanggan untuk mencapai kontrol proses yang lebih baik, dan berdampak positif terhadap efisiensi modul.

Karena produk setengah jadi yang berbeda memiliki persyaratan optik dan elektro-optik yang berbeda ketika tiba waktu untuk mengukur sifat lapisan tertentu, proyek penelitian mempertimbangkan konsep pengukuran yang fleksibel dan konfigurasi pengukuran.

“Untuk mengoordinasikan aplikasi dengan tujuan masing-masing dan nilai target yang akan ditentukan, pengujian dilakukan pada substrat yang lebih kecil dan produk setengah jadi, yang diproduksi bekerja sama dengan mitra produk menggunakan variasi proses yang khas,” tutur Dr. Christian Hagendorf , Manajer Proyek di Fraunhofer CSP.

Dalam proses ini, unit pencahayaan LED memungkinkan untuk seleksi radiasi yang homogen dan spektral.

Hal itu menjamin tercapainya presisi tanpa kehilangan selama transfer dari skala lab yang kemudian diterapkan sesuai ukuran di industri ketika berlangsung proses produksi.

Temuan di bidang karakterisasi material, pengembangan teknologi dan teknologi pengukuran juga dapat ditransfer ke proyek-proyek di industri pelapisan, kaca dan semikonduktor, platform pengukuran—dikembangkan di Fraunhofer CSP.

Proyek penelitian yang berlangsung selama tiga tahun didanai oleh European Regional Development Fund (EFRE).

Sementara mitra proyek adalah perusahaan Calyxo GmbH, Solibro Hi-Tech GmbH, f|glass GmbH, Wavelabs GmbH,  ACM coating GmbH, point electromnic GmbH, Dosatsu GmbH dan engineering firm Rosonsky.

Apakah para produsen kaca di Indonesia telah memperluas pantulan cahaya pada kaca buatan mereka?

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *